DXR S140: 全新的数字平板探测器
我们在此非常高兴地宣布,全新的DXR S140 数字平板探测器加入到我们Phoenix Microme|x Neo 和Nanome|x Neo系列产品中。这款创新的探测器不仅保持了我们原有数字平板探测器卓越的实时成像性能,还显著提升了其高分辨率的检测性能,满足了电子行业对更高分辨率和精度日益增长的需求。
Phoenix Microme|x Neo和Nanome|x Neo 系列产品提供了各种功能独特的探测器,满足您特殊的应用体验:
- 85µm 分辨率的 DXR S85 探测器,性价比之王,专用于小型元器件和 PCB/PCBA 检测。
- 200µm 分辨率的 DXR 250RT探测器,具备主动冷却功能,动态范围极高,图像质量出色,能够确保快速且细致的实时检测。
- 139µm 分辨率的 DXR S140 具有超快的成像速度,可满足高集成度微电子检测的全面需求。
- 100µm 分辨率的大尺寸 DXR S100 Pro 探测器,出色的探测能力和检测效率,尤其适用于半导体和大尺寸样品检测。
我们一直在不断突破数字成像的极限。准备好,来体验我们全新的DXR S140数字平板探测器带给您的前所未有的卓越成像质量和精度吧!
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